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產(chǎn)品中心

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當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心場發(fā)射掃描電鏡SEM檢測

場發(fā)射掃描電鏡SEM檢測
產(chǎn)品簡介

蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM系列,具有出色的分辨率,能夠輕松實現(xiàn)亞納米分辨成像以及高探測效率,適用于包括磁性材料的多種材料的高分辨成像與分析。無論是在高真空還是在可變真空壓力模式下,更高的表面細(xì)節(jié)信息靈敏度讓您在對任意樣品進(jìn)行成像和分析時都具備更佳的靈活性,可獲取各類樣品在微觀世界中清晰、真實的圖像。 場發(fā)射掃描電鏡SEM檢測

產(chǎn)品型號:
更新時間:2024-07-11
廠商性質(zhì):代理商
訪問量:2330
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發(fā)射掃描電鏡SEM相關(guān)檢測
 

項目

細(xì)則

收費

說明

僅形貌觀察

每個樣品*20min,超出時間將按照每20min一個樣計算;樣限取5張照片/樣

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僅元素分析測試

EDS元素分析/分布包括:點分析(限3點);線分析;面分析

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形貌觀察和元素分析

SEM每個樣品限取5張照片;

EDS元素分析/分布包括;

點分析(限3點);

線分析;面分析;

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EBSD

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制樣收費面議

STEM

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冷臺、熱臺、WetSTEM原位觀察

需要設(shè)計試驗方案,價格面議。

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鍍金

鍍層為Au 5nm

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鍍鉑

鍍層為Pt 5nm

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發(fā)射掃描電鏡SEM相關(guān)檢測
 

蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma系列,采用蔡司Gemini鏡筒,具有高品質(zhì)的成像和優(yōu)質(zhì)的分析能力,可選配備多種探測器,以滿足顆粒物、納米結(jié)構(gòu)、薄膜樣品等各種不同的應(yīng)用需求。EDS幾何設(shè)計可實現(xiàn)高性能的元素分析,無論哪種樣品適用范圍廣,且均可獲得準(zhǔn)確且可重復(fù)的分析結(jié)果。

[ 產(chǎn)品特點 ]1. 靈活的探測手段獲取高分辨的圖像2. 智能高效的工作流程3. 高性能的分析系統(tǒng)4. 可擴(kuò)展拉曼光譜成像5. *的Gemini鏡筒設(shè)計-提升光學(xué)性能的同時,降低靜電場與磁場對樣品的影響

 

日立掃描電鏡

該分析用掃描電子顯微鏡適合用于研究大件,較重,較高的樣品。

▲樣品直徑達(dá)300mm。▲可觀察范圍直徑達(dá)203mm。▲可對高達(dá)110mm的樣品進(jìn)行觀察和能譜分析?!ㄓ眯徒涌诓季譂M足各種分析用途。

 

 

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