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Materials Data (MDI)總部位千美國加利福尼亞州,幾十年來專注千開發(fā)XRD分析軟件。自主開發(fā)的JADE*采用全譜擬合和Rietveld 方法來分析XRD數(shù)據(jù),并 且早使用結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)計算模擬衍射圖,向用戶展 示了其重要性。JADE界面友好, 功能強大且使用方便,是 分析XRD數(shù)據(jù)的選擇?,F(xiàn)在, JADE 已 經(jīng)遍布世界各地的X射線粉末衍射實驗室并作為標準的XRD分析軟件, 在科學(xué)研究、教育及資源探索方面得到廣泛的應(yīng)用。JADE兼容不同品牌衍射儀收集的數(shù)據(jù), 讓處理和分析XRD數(shù)據(jù)的過程變得更加簡單便捷 , 為用戶提供準確、中立結(jié)果。我們致力千推進XRD分析方法,并繼續(xù) 為XRD 領(lǐng)域開發(fā)功能更強大的軟件 。
JADE 產(chǎn)品列表
JADE Product Line
智能化XRD分析軟件專業(yè)版
是一種功能強大、全功能的粉末XRD圖處理和分析軟件,尤其注重定量分析和鑒定物相,可 實現(xiàn)非常規(guī)少量物相的準確鑒定和定量分析。JADE經(jīng)歷了幾代界面與算法的發(fā)展, JADE 讓您處理和分析XRD數(shù)據(jù)的過程變得更加簡單便捷, 分析結(jié)果更加清晰易懂。
目前, ICDD-MDI 共發(fā)行JADE Standard (JADE標準版) 和JADE Pro (JADE 專業(yè)版)兩個系列。JADE Standard在基礎(chǔ)版本上,有兩個可選功能模塊,即 Search/Match (S/M, 物相檢索)和Whole Pattern Fitting (WPF, 全譜擬合)。JADE Pro包含XRD數(shù)據(jù)分析的所有功能 , 物相鑒定、全譜擬合、Rietveld精修、晶粒尺寸和微觀應(yīng)力分析、粉末解析結(jié)構(gòu)等功能。用戶可根據(jù)自身需求,選擇 適合自己的模板。
JADE — 科學(xué)家信賴的產(chǎn)品
JADE —Scientist Trust XRD Applications
JADE采用啟發(fā) 式方法自動進行分析 ,自 動檢測文件格式
JADE 可自 動擬合背景 、尋峰 、 鑒定物相以及標定品質(zhì)因數(shù) (FOM)
JADE的"一鍵式全譜擬合分析'功能十分強大,速度驚人,定性定噩 分析結(jié)果更好
JADE 可批量進行 Rietveld分析,分析結(jié)果可直接用 千文章發(fā)表或 學(xué)術(shù)報告
JADE Pro采用傅立葉電 荷圖 快速確定晶 體結(jié)構(gòu)
JADE適配千不同品牌的衍射儀,有效 統(tǒng)— 分析 數(shù)據(jù)
J ADE提供新數(shù)據(jù)的檢索方法和數(shù)據(jù)分析 方法, 使您的設(shè) 備繼續(xù)保持生命力
JADE可兼容大部分晶 體學(xué)數(shù)據(jù)庫, 包括 PDF 數(shù)據(jù)庫 , CIF 等,支持用戶自定義數(shù)據(jù)庫
獨立千硬件制造商 ,專注于開發(fā) XRD 數(shù)據(jù)分析應(yīng)用軟件
JADE可兼容所有衍射儀生成的文件格式,包括同步
JADE可兼容所有衍射儀生成的文件格式, 包括同 步 輻 射 、理 學(xué),布 魯克 ( Siemens),馬爾文帕納科 (Ph由ps) , ARL 賽默飛 (Scintag), 島津,Proto, XOS, X-Y格式以 及其他 格式的 數(shù)據(jù)
對任何衍 射儀測試的 數(shù)據(jù)均 可得到 無偏見的 分析結(jié)果,致力千追求準確的、無偏見的 XRD分析和結(jié)果
• JADE 系列產(chǎn)品均使用電子,以 便 在不同電腦上運行
• JADE Pro 可在局域網(wǎng)內(nèi) 輕松訪問,共享使用
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